北京i-bitX射线检测

上海晶珂机电公司销售的微焦点X射线小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本几何学倍率达到1000倍!搭载芯片计数功能!"X射线立体方式3D-X射线观察装置FX-3o0fRXzwithcT以往运用X射线的检查方式,背面的CHIP(芯片)零件成为杂讯而很难做正确的检查。l-Bit公司所开发的r3D-X射线立体方式能够将背面基板贴装的BGA,LGA,QFN等图像删除。与以往的X射线CT方式不同不需要断层图像所以能够做高速处理特征采用X射线立体方式(爱比特公司的***技术)2几何学倍率:达到1000倍3搭载CHIPCOUNTER(芯片计数)机能4运用光广角照射能够做高倍率倾斜摄影GBGA自动检查机能(选配功能)VCT(垂直CT)PCT(倾斜CT)功能(选配功能)装基板等的焊锡部位的检查用途@LED的FLIPCHIP(倒装芯片)装的焊锡部位检查POWERDEVICE(IGBT)的双层焊锡部的Void(气泡)检查I-BIT X-RAY 日本爱比特 X射线检测 检测基板焊点的焊锡不足、焊接不良、焊锡短路等问题。北京i-bitX射线检测

微焦点X射线检测系统，日本爱比特，i-bitX-ray检测系统3D-X射线立体方式观察装置

产品型号：FX-4OOtRX

运用3D-X射线立体方式达成大电流元件的双层锡焊分离检查!

特征:

D130kV,0.5mA,39W的高输出X射线5mm厚的钢板也能穿透(FX-500tRX)

达到110kV,0.2mA,20W的高输出及空间分辨率2um的高解像度(FX-400tRX)

可利用3D-X射线立体方式进行2层分离检查

采用寿命长,130万画素,14bit(16384阶调)平板X射线,可降低运营成本

小型的检查设备本体

可以用QR码识别作产品追踪 贵州在线X射线检测上海晶珂销售的X-ray X射线检测设备应用于电子元器件的内部结构检测。

I-BIT X-RAY IMAGING SYSTEM X射线立体CT。。。。。。。。。。。。。。。

型号FX-300tRXFX-400tRXX射线管种类微焦点密闭管（可灵活切换2D检查/3D立体检查, 3D断层检查）X射线靶材位置穿透型靶材(与开管相同方式)X射线管电压20 – 90 KV  0.1 mA30 – 110 KV  0.2mAX射线焦点径5µm2µm检测范围330X250mm（加大尺寸可做到600X600mm）X.Y轴行程/ Z轴行程X轴：330mm, Y轴：250mm/  Z1 (X射线摄像机)：150～500mm。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。

上海晶珂销售的i-bit品牌的微焦点X射线检测系统具有X射线焦点0.25um高解像度的解析用X射线观察装置X射线观察装置WAFERBUMP(晶圆凸块)的外IX-1610几何学倍率:2000倍X射线焦点径:0.25um具有世界比较高等级的X射线分辨率,附带有不良解析功能的X射线观察装置1X-1610特征D160KV0.2mA,0.25um开放型采用Microfocus(微调聚焦)X射线管世界**小的X射线焦点尺寸(0.25um)2几何学倍率:2,000倍3采用穿透型靶材4采用280万画素X射线数码1.I管G运用6轴控制能够做高机能观察及自动检查6付360转盘，自动修正样品位置相机具有60倾斜功能自动修正样板位置8自动检查机能,VOID(焊锡气泡)检查锡桥检查等9内置PC,24英寸LCD,付键盘(0可对应12英寸硅片上海晶珂销售爱i-bit 的FX-300tR型号的X射线立体方式检测装置，对BGA的锡球和基板结合部分离检测。

日本爱比特，i-bit  微焦点X射线检测系统   3D自动X射线检测   小型密闭管式X射线装置,

达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本。

型号：FX-300fRXzwithc

搭载芯片计数功能!

依据X射线的穿透图像数卷轴上的压纹带里面的电子零件“方形芯片‘的数量。

一个卷带盘约30秒可完成计数。

倾斜CT功能,垂直CT功能(选配设定)将检查对象工件放置在转盘上做360°旋转,取得图像。

用专门软件进行图像重组,可输出断层图像可使用VolumeRendering(立体渲染)软件做3D输出,也能输出断层动画。

3D图像资讯的重组,使用GraphicProcessingUnit*(图像处理器)速度能够达到以往的1/20。

影像处理用的处理器具有1000个以上,可以同时处理1000个以上的图像 i-bit 爱比特 X-ray X射线检测硅晶片结晶缺陷，凸起直径，Void(汽泡）率，Void(汽泡）径，凸起形状检测。重庆硅晶片结晶空隙X射线检测

上海晶珂销售的X射线检测设备针对电子元器件的内部结构检测 。北京i-bitX射线检测

微焦点X射线检测系统   具有X射线焦点0.25um高解像度的解析用X射线观察装置

日本爱比特，i-bit  X射线观察装置

型号：IX-1610

几何学倍率:2000倍

X射线焦点径:0.25um

具有世界高等级的X射线分辨率,附带有不良解析功能的X射线观察装置

特征：

160KV0.2mA,0.25um开放型采用Microfocus(微调聚焦)X射线管世界上小的X射线焦点尺寸(0.25um)

几何学倍率:2,000倍

采用穿透型靶材

采用280万画素X射线数码1.I管

运用6轴控制能够做高机能观察及自动检查

付360转盘，自动修正样品位置

相机具有60倾斜功能自动修正样板位置

自动检查机能,VOID(焊锡气泡)检查锡桥检查等

内置PC,24英寸LCD,付键盘

可对应12英寸硅片 北京i-bitX射线检测

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